一、測(cè)試背景

       在電子工程領(lǐng)域，PCB阻抗線的準(zhǔn)確測(cè)量是保證高速數(shù)字信號(hào)完整性和射頻電路性能的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。隨著5G通信、人工智能和物聯(lián)網(wǎng)技術(shù)的快速發(fā)展，對(duì)PCB阻抗控制的要求已達(dá)到微米級(jí)精度，這給測(cè)量技術(shù)帶來(lái)了新挑戰(zhàn)。

       PCB網(wǎng)口差分阻抗測(cè)試方案主要采用?矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀 （VNA）?進(jìn)行測(cè)試，通過(guò)測(cè)量S參數(shù)計(jì)算阻抗值。差分阻抗通常設(shè)定為100Ω，符合以太網(wǎng)標(biāo)準(zhǔn)要求。

二、測(cè)試對(duì)象?

?1、單端走線?：測(cè)量單根傳輸線（微帶線、帶狀線）的?特征阻抗?（如50Ω、75Ω）。

?2、差分走線?：測(cè)試差分對(duì)的?差分阻抗?（如90Ω、100Ω）和?共模阻抗?。

?3、過(guò)孔阻抗?：分析過(guò)孔的阻抗特性及高頻寄生效應(yīng)。

?4、電源/地平面阻抗?：評(píng)估電源分配網(wǎng)絡(luò)（PDN）的阻抗特性。

三、測(cè)試方法?

1、?設(shè)置參數(shù)?

（1）頻率范圍：根據(jù)網(wǎng)口協(xié)議設(shè)定（如千兆以太網(wǎng)需覆蓋1GHz以上）

（2）掃描點(diǎn)數(shù)：401點(diǎn)以上以保證曲線平滑

2、?校準(zhǔn)與測(cè)量?

      復(fù)位儀器→選擇阻抗分析模式→連接治具→執(zhí)行校準(zhǔn)（開路→短路→負(fù)載）→完成測(cè)試

3、?結(jié)果分析?

      史密斯圓圖觀察阻抗軌跡，標(biāo)記工作頻段內(nèi)阻抗值（如50Ω±10%）